物镜球差校正场发射透射电镜

Titan G2 60-300 生产厂家：美国FEI公司                    

仪器介绍    

Titan G2 60-300是一个真正多功能、多用户环境的300kV工具，它将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、STEM、能谱等)方便灵活地有机组合,形成强大的分析功能，而在同类型仪器中独占鳌头,它允许在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换，使用户可以在亚埃的分辨率进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。       

主要配件  

Super-X能谱仪系统：FEI专利的Super-X能谱仪一体化统：探测器窗口/类型采用无窗口设计，有效探测器面积Detector area: 120 mm²，在同一用户界面下可以和STEM配合，进行有漂移校正的线扫描和面扫描定性/定量分析。    
样品杆：低背景双倾样品杆样品台(α轴最大样品倾角：±40°,b轴最大倾角：±30°)，单倾样品杆等；   一体化STEM系统：STEM硬件、扫描图像技术、高角度环形暗场探测器（HAADF Detector）、明/暗场探头（BF/DF Detector）；   

技术参数  

加速电压：300KV  
TEM点分辨率：80pm；    
信息分辨率：优于80pm；  
STEM分辨率：优于136pm    
最大STEM采集角：12°（半角）；    
会聚束最大会聚角：100mrad；    
样品台最大样品倾角：±40°；  
双倾样品杆b轴倾角：±30°      

应用范围    

本仪器具有亚埃的高分辨率，并配有Super-X能谱仪,可在原子尺度探测研究物质的显微结构和成分，广泛应用于材料、化学化工、物理、地质矿物等学科及工程领域。     

安放地址：    

中南大学校本部分析测试中心电镜室108-109房       

联系电话：  

张老师13874895627  0731-88830416